chroma 7925 TO-CAN 封裝外觀檢測(cè)系

主要特色：可檢測(cè)TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合不良等缺陷具備自動(dòng)對(duì)焦功能，可克服載盤制造公差內(nèi)的高度差異檢測(cè)完成后可依設(shè)定規(guī)格挑揀不良品提供比人工目檢更佳的可靠度及重復(fù)性每小時(shí)高可檢測(cè)3600顆待測(cè)物自動(dòng)化上下料盤，減少人員上下料時(shí)間提供完整的檢測(cè)資料，包含檢測(cè)數(shù)據(jù)及缺陷影像以供工程分析

Chroma 7925為自動(dòng)化TO-CAN封裝外觀檢測(cè)系 統(tǒng)，可提供封裝前后的透鏡與金屬外蓋缺陷進(jìn)行 檢測(cè)。透過(guò)高解析度之鏡頭以及多樣的光源配 置，可檢出30um以上的透鏡刮傷及異物。由于 載盤可能存在制造公差導(dǎo)致待測(cè)物對(duì)焦距離均不 相同，Chroma 7925配置了自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，可自 動(dòng)計(jì)算待測(cè)物之對(duì)焦距離并進(jìn)行補(bǔ)償，以確保可 以取得清楚的檢測(cè)影像。使用者可以自由設(shè)定良品與不良品之規(guī)則及缺陷 編碼，并依據(jù)編碼進(jìn)行挑揀。從上片、檢測(cè)、挑 揀及下片均為全自動(dòng)化流程，大幅降低人員操作 及制程管理發(fā)生錯(cuò)誤的機(jī)會(huì)。檢測(cè)完成后，工程 師可以取得詳細(xì)的缺陷量化數(shù)據(jù)，以及儲(chǔ)存缺陷 影像以利于再判讀。相較于人工目檢無(wú)法保留檢 測(cè)資料，使用Chroma 7925所取得之資料，將有 助于分析制程問(wèn)題，并進(jìn)一步提升產(chǎn)品良率。7925 TO-CAN 封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)

深圳市美佳特科技有限公司（簡(jiǎn)稱“美佳特"）成立于2010年，致力于光通訊測(cè)試、通用電子測(cè)量及5G測(cè)試服務(wù)。美佳特以“無(wú)線溝通，溝通無(wú)極限 "企業(yè)使命，業(yè)務(wù)聚焦于精密測(cè)試測(cè)量?jī)x器的租賃、銷售、維護(hù)、計(jì)量及測(cè)試環(huán)境搭建等一站式服務(wù)。chroma 7925 TO-CAN 封裝外觀檢測(cè)系

主營(yíng)產(chǎn)品：示波器主機(jī)和模塊、眼圖儀、光譜儀、信號(hào)源、頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、阻抗分析儀、光通信儀器、誤碼儀、光時(shí)域反射儀、可調(diào)諧激光源、光功率計(jì)、光衰減器等。合作品牌：安捷倫、是德、泰克、安立、愛(ài)得萬(wàn)、安騰、力科、馬可尼（IFR）、R&S、EXFO等。

主推：Agilent 86100D/C 示波器,keysight M8195A 任意波形發(fā)生器,Anritsu MS9740B/A 光譜分析儀,YOKOGAWA AQ6370D/E 光譜分析儀,keysight N1092A/C 采樣示波器,keysight E8257D 模擬信號(hào)發(fā)生器,keysight E5071C 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀